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由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統，因而應用廣泛：
在電子和半導體產業里，測量觸點上薄金，鉑和鎳層厚度或痕量分析。
在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中，精確分析貴金屬合金組分。
在質量管控和來料檢驗中，需要確保產品或零部件*材料設計規范。如在太陽能光伏電池產業中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業中，則需要測量大批量部件的厚度。
對于電子產品的生產者和采購者，檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》（RoHS指令）也是十分關鍵的。在玩具工業中，也需要有可靠的有害物質檢測手段。
對于以上測量應用，菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光譜儀都能完美勝任。

典型應用領域:

線路板行業.........................Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等鍍層的測量
電子行業.........................接插件和觸點的鍍層測量electronics industry
裝飾性鍍層.........................Cr/Ni/Cu/ABS
批量生產部件.........................（螺絲和螺母）防腐鍍層測量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
測定電鍍槽中的金屬含量
珠寶和手表行業金和貴金屬分析
測量幾個納米的超薄鍍層，如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。
痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質）
用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素
實驗室，測試機構和大學里一般性的材料分析和鍍層厚度測量