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手持式PHASCOPE PMP10鍍鎳層測厚儀非常適合電鍍和印刷電路板（PCB）行業的質量控制。 由于該儀器采用了相敏渦流方法（ISO 21 968），因此可以測量任何基材上的金屬涂層。
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菲希爾FMP30+FGAB1.3-Fe鐵素體測定儀探頭 FERITSCOPE® FMP30，訂貨號 604-300，標配包括儀器，背帶，儀器箱，電池組，打印版操作指導，CD光盤（含操作說明和USB驅動程序，連接電纜FMP/PC，探頭需根據實際測量需求自行選擇，校準片規格請留言或電詢！探頭探頭 測量范圍 0.15 – 80 %Fe 或 0.15 – 110 WRC-FN。
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菲希爾PHASCOPE PMP10鍍銅層測厚儀使用相位感度電渦流方法是根據草擬中的ISO/DIS 21968規格所製造的，比較傳統的電渦流 DIN ENISO 2360 的測量方法，這種測量方法在測量金屬鍍層厚度方面有明顯的好處。
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Sigmascope SMP350非磁性金屬電導率儀準確準確地測量金屬導體的導電性。 我們的sigmascope SMP350也用于評估各種熱處理材料的硬度和強度。 導電性是提供有關金屬導電能力的信息的基本材料特性。
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fischer dualscope mp0表面電鍍層厚度測量儀， DUALSCOPE MP0涂鍍層測厚儀基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量
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奧氏體及雙相不銹鋼鐵素體含量測定儀價格 機械性能和耐腐蝕性取決于鋼中鐵素體的含量，特別是在高溫下。鐵素體測試儀用于許多行業，包括：油和氣、紙漿和造紙、化學制品、發電廠、礦業、制造業等行業。
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CMS2 STEP — 同時測量多鍍層厚度和電位差 CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。CMS2 STEP的典型應用: 汽車制造中的Cr裝飾物， 多層鎳的鍍層
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德國菲希爾FISCHER公司生產的經得起考驗的feritscope fmp30菲希爾鐵素體檢測儀適合于需要一款帶全部測量數據存儲，輸出和打印功能的使用者。FERITSCOPE FMP30鐵素體測試儀能存儲多達100個應用程式中4,000個數據組中的20,000個測量數據。
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微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個測量系統包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽） 。各種測量臺設計適合不同的應用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 在多層鎳的量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。
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德國菲希爾fmp100+fgab1.3測厚儀 篤摯儀器是德國菲希爾Fischer合作多年的正規代理商，專業代理供應德國Fischer便攜式涂鍍層測厚儀，鍍銅測厚儀，庫侖測厚儀，鐵素體含量檢測儀器，電導率儀，防腐涂層測厚儀，校準片標準片，探頭等，一直致力于為客戶提供有關Fischer產品的技術性支持和建議，并提供理想解決方案。
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手持式電導率儀SMP350測量原理應用和硬件 使用德國FISCHER的測量儀器，您可以快速、準確地測定這些重要參數。特殊的渦流法可支持非接觸測量，甚至在厚高達500 μm 的油漆或塑料涂層下也同樣如此。該方法同時還可大限度地降低表面粗糙度的影響。
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XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。
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費希爾MPO涂層測厚儀技術資料 MPO涂層測厚儀為德國生產涂層測厚儀，MPO 涂層測厚儀集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。
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菲希爾dualscope mp0測厚儀現貨篤摯基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。
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篤摯現貨供應fischer校準片德國菲希爾校準膜片介紹： 膜片規格：MP0膜厚儀配的是75μm左右的膜片，FMP10系列配的是24μm和250μm。FMP20配的是9μm，125μm，24μm和250μm。外有其他規格可選：9μm，11μm，24μm，35μm，50μm，75μm，125μm，250μm，350μm。
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COULOSCOPECMS2庫倫法測厚儀現貨嘗鮮價CMS2系列儀器通過電解去鍍的方法測量鍍層的厚度。庫侖法也可用于準確地確定任何類型基材上的多層涂層的厚度。CMS2 STEP版本允許對單個鍍層進行標準的STEP測試，以檢測電位差（例如，多層鎳鍍層的質量控制）。
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xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產線中。
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fischer鍍層測厚儀RMP30-S現貨供應 該便攜式設備采用 4 點電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優勢是利用電阻法測量不會受到其他層的影響，因此能夠精確測定上層面銅層的厚度。
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德國菲希爾FISCHER
菲希爾測厚儀