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泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC S128

1. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128測量能力

• 量程覆蓋：支持 400μm/100μm/10μm 三檔量程切換，可精準測量從粗糙鑄件（如 Ra 12.5-25μm）到超精密光學元件（如 Ra≤0.1μm）的全范圍表面。

• 分辨率：對應三檔量程分別為 50nm/10nm/5nm，噪聲地板（Ra）低至 150nm/100nm/50nm，可捕捉納米級表面紋理變化。

• 參數支持：涵蓋 ISO 4287 標準參數（如 Ra、Rz、Rt、Rq 等）及功能參數（如 Rmr 材料比曲線、Rsk 偏態系數），全面反映表面微觀形貌。

2. 泰勒霍普森粗糙度儀硬件設計

• 傳感器：采用電感式傳感器，鉆石針尖半徑可選 5μm（默認）、2μm 或 10μm，適配不同表面特性。

• 探頭設計：標配 50mm 測針升降裝置與直角附件，可深入 70mm 深孔或管道內部測量，支持反向測量復雜結構死角。

• 便攜性：手掌大小（150x85x55mm），重量僅 0.5kg，機身包裹塑化橡膠，觸摸屏覆蓋聚酯薄膜，抗沖擊和刮擦，適應車間振動環境。

3. 操作與續航

• 觸摸屏：4.3 英寸彩色工業觸屏，支持一鍵式操作，單次測量周期縮短至分鐘級。

• 電源：內置鋰電池，一次充電可完成 2000 次測量或待機 5000 小時，支持 USB 充電。