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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾臺式測厚儀，FISCHER代理，菲希爾鍍層測厚儀
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Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測厚儀
Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測厚儀穩健性、易操作性和數據導出方面樹立了新標準，從而使我們生產中的日常質量控制更加容易。
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涂層測厚儀fischer代理isoscope fmp10
涂層測厚儀fischer代理isoscope fmp10，fischer涂層測厚儀，篤摯儀器現貨供應，產品質量優。
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Fischer Deltascope FMP10涂層測厚儀
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Fischer庫倫法測厚儀|Fischer代理
Fischer庫倫法測厚儀|Fischer代理，菲希爾代理產品，篤摯儀器現貨供應，產品質量優價格好。
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fischer電導率測試儀Sigmascope SMP350
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鐵素體含量檢測儀feritscope FMP30|菲希爾
鐵素體含量檢測儀feritscope FMP30|菲希爾，菲希爾鐵素體含量測試儀，篤摯儀器現貨供應。
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fischer涂層測厚儀isoscope fmp10
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Fischer測厚儀代理V1FGA1HR34磁感應探頭
Fischer測厚儀代理V1FGA1HR34磁感應探頭：貨號604-183。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應探頭。特殊的探頭用于測量直徑大于7mm的軸套或管子內部。手柄到測量元件的長度為100mm，亦即可測量的*大距離。
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fischer fmp20+探頭fd10（604-143）測厚儀
fischer fmp20+探頭fd10（604-143）測厚儀 DUALSCOPE FMP20操作簡便，機體堅固并配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個USB端口，可以輕松地將測量數據傳輸到電腦，并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進行計算和儲存。
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fischer銅厚測量儀 sr-scope rmp30-s
fischer銅厚測量儀 sr-scope rmp30-s SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設備采用4點電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優勢是利用電阻法測量不會受到其他層的影響，因此能夠準確測定最上層面銅層的厚度。
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fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀
fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀篤摯儀器代理供應*鐵素體分析儀，鐵素體測試儀，奧氏體和雙相鋼不銹鋼鐵素體分析儀，奧氏體不銹鋼焊縫中δ鐵素體的存在會影響焊縫的強韌性、耐腐蝕性及焊接性,工程現場的焊接過程通常借助鐵素體含量測定儀來控制δ鐵素體的含量。
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測厚儀fischer fmp20+探頭fd10（604-143）
測厚儀fischer fmp20+探頭fd10（604-143） FMP20 型儀器是專業便攜式測量系統中的入門級機型，是現場檢查和控制測量的理想選擇。DUALSCOPE FMP20機型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度:可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。也可以測量非鐵磁金屬基。材上涂料、油漆、塑料涂層和陽極氧化層的厚度。
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菲希爾Fischer MP0R測厚儀*總代理
菲希爾Fischer MP0R測厚儀*總代理篤摯儀器代理供應的德國*菲希爾Fischer MP0R測厚基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。德國MPO涂層測厚儀符合國家標準GB/T
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fischerscope mms pc2電子行業銅厚測厚儀
fischerscope mms pc2電子行業銅厚測厚儀這一插入式模塊采用了微電阻方法，適合于測量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板，也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層，以及帶環氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。銅的厚度在0.1至10 µm （0.04 至0.4 mils）以及5至120 µm （0.2至4.7 mils），不受中間銅層的干擾。
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鐵素體檢測儀什么品牌好
鐵素體檢測儀什么品牌好擁有50多年的經驗，位于德國Sindelfingen的HelmutFischer GmbH公司在涂鍍層測厚、材料測試、硬度測試、電導率和鐵素體含量測試、氧化膜致密性和孔隙率測試方面是處于**地位的專家。憑借廣泛的經驗，與工業和研究部門的密切合作，可以為客戶的特定項目提供理想的解決方案。
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無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230
無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。
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新一代德國Fischer測厚儀MP0問世
新一代德國Fischer測厚儀MP0問世德國菲希爾MP0測厚儀采用廣受認可的Fischer探頭技術，是一款小巧卻能大大程度上滿足您的測量需求的儀器。
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Fischer（菲希爾）庫倫測厚儀總代理
Fischer（菲希爾）庫倫測厚儀總代理庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構
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德國Fischer金屬渦流電導率儀
德國Fischer金屬渦流電導率儀一款采用渦流法測量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁，銅和不銹鋼等的電導率的儀器。此外,基于測量電導率,還可得出關于硬度和熱處理的材料強度方面的結論。也可以確定熱損傷和材料疲勞。
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